毫歐表4339B

特點：　

·測試信號電流低且可選擇：1μA~10mA
·測量范圍寬：10μΩ~100kΩ
·分辨率：10μΩ
·接觸檢查功能
·1kHz交流測量
·測量速度高：34ms
·內設比較器
·自動測量方式

在低電流電路中，機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號（1μA~10mA）。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內阻的方法，因為它避免了直流能量的消耗。

　　  -  高速測量

　　高速（34ms）內設比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構成一個測量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測試時間縮短到zui低限度。

　  -  自動測量方式

　　在進行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時，自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設定測量范圍。

  -  技術指標：

　?。ㄈ娴募夹g指標請參閱技術資料）

測量功能
測量參數(shù)：R（交流電阻），X（電抗），L（電感），|Z|（阻抗），θ（相位[°]）
組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ（只適用于串聯(lián)模式）
數(shù)學功能：偏差和相對偏差（以百分比表示）
顯示數(shù)字：3.4或5位（可選擇）
測試信號特性
測試頻率：1kHz
頻率精度：±0.1%
測試信號電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms
電平精度：±（10%＋0.2μA）
樣品兩端的zui大電壓：在任何情況下zui大為20mV峰值

  -  測量范圍

　參數(shù)　　　測量范圍
　R　　　　 10μΩ~100kΩ
　X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ （典型值）
　L　　　　 10nH~10H（典型值）
　θ　　　　 -180°~＋180°（典型值）
測量精度：R的基本精度為±0.4%
測量時間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結束測量（EOM）信號輸出的時間間隔
模式　　時間（典型值）
短　　　34ms
中等　　70ms
長　　　900ms

  -  修正功能

短路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差 

-  比較功能

對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設立高/符合/低界限 

-  接觸檢查功能

可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障 

-  其它功能

疊加直流：在測量端可能給出±42Vdc（zui大值）
存儲/調用：可以由內部非易失存儲器對10種儀器設置進行存儲/調 用
連續(xù)存儲功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設置將自動被存 儲起來（在23±5℃時≤72小時）
HP-IB接口：所有控制設置、被測值和比較器信息
處理器接口：所有輸出信號為負邏輯，光隔離開路集電極
輸出信號包括：高/符合/低、變址，測量結束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā) 

-   一般指標
電源要求：198~264V，47~66Hz,45VAmax
工作溫度：0°~45℃
尺寸：320mm（寬）×100mm（高）×300mm（長）
重量：4.5kg